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Nanomonde
moyens techniques et équipements
Deux AFM sont présents sur la plateforme (poster AFM)
AFM Veeco
- Le premier est un Microscope à Force Atomique de marque Veeco, modèle DI3100. Il s'agit d'un AFM à l'air, protégé par un caisson antiphonique, anti électromagnétique et monté sur coussin d'air.
Ses caractéristiques sont : une taille de scan de 100x100µm, un débattement vertical de 5.570µm (en Z) et il peut accueillir des échantillons faisant jusqu'à 100mm de diamètre.Celui-ci est piloté par un ordinateur (Pentium4) par le biais du logiciel NanoscopeIII v5.12
Ses possibilités sont la microscopie AFM en mode contact, tapping, EFM, MFM, nanolithographie, mesure de rugosité, de profils de hauteurs... - Le deuxième est un AFM de marque Scientec (voir ses caractéristiques)
AFM Scientec
STM (poster stm)
Il s'agit d'un Microscope à Effet Tunnel de marque Nanosurf. Son intérêt est surtout pédagogique, car de dimensions très réduites, ouvert à l'air, et la pointe étant facilement remplaçable.
Il offre la possibilité de réaliser des images de tailles maximales de 500x00nm avec un débattement vertical de 200nm. Ce STM est piloté par ordinateur grâce au logiciel EasyScan.
Sont surtout observés des échantillons de graphite (HOPG) avec lesquels on peut descendre jusqu'à la résolution atomique et ainsi vérifier différentes géométries moléculaires (paramètre de maille, densité électronique...).
STM
Profilomètre (poster profilomètre)
Il s'agit d'un profilomètre/vibromètre optique de marque Fogale.Cet appareil permet de mesurer la topographie d'échantillons sur une large gamme de tailles et de hauteurs.
Il permet aussi, grâce à un cristal piézo-électrique, d'exciter un microsystème afin de mesurer son comportement (lumière stroboscopique), ceci à l’aide d’un générateur basse fréquence.
Ces mesures peuvent être réalisées en lumière monochromatique ou en lumière polychromatique selon la résolution désirée et le type de mesure.
L'appareil est piloté par un ordinateur grâce au logiciel photomap3D qui permet, entre autres, de reconstruire en trois dimensions le système étudié, de réaliser des séquences animées de microsystèmes, de mesurer des profils de hauteurs, la rugosité d'un échantillon...